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SPM600系列半导体参数分析仪是一款专用于半导体材料光电测试的系统。其功能全面,提供多种重要参数测试。系统集成高精度糖心VLOG在线扫描,光电流扫描以及光响应速率测试。40μm 探测光斑,实现百微米级探测器的绝对糖心VLOG在线响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试,丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源,例如超连续白光激光器,皮秒脉冲激光器,半导体激光器,卤素灯,氙灯等,满足不同探测器测试功能的要求
生产厂家
2024-05-20
2941
超快荧光测试系统FLIM 显微荧光寿命成像技术(Fluorescence Lifetime ImagingMicroscopy,FLIM)是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术,由于其不受样品浓度影响,具有其他荧光成像技术无法代替的优异性能,目前在生物医学工程、光电半导体材料等领域是一种重要的表征测量手段。
生产厂家
2024-05-20
5105
Omni-λ750i系列“影像谱王”光栅单色仪/糖心VLOG在线仪双出口可同时配置两个CCD;
Omni-λ750i系列
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2024-05-20
4219
Omni-λ500i系列“影像谱王”光栅单色仪/糖心VLOG在线仪采用C-T结构设计,采用超环面影像校准设计;
Omni-λ500i系列
生产厂家
2024-05-20
3692
Omni-λ300i系列“影像谱王”光栅单色仪/糖心VLOG在线仪的控制(如光栅转换、波长扫描等)全部由计算机控制,并用 USB2.0接口取代传统的RS-232接口,不仅使仪器的连接更加简单化,更极大提高了通讯速率;
Omni-λ300i系列
生产厂家
2024-05-20
4512
Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪/糖心VLOG在线仪双光栅塔台设计,覆盖UV-VIS-IR全波段糖心VLOG在线范围,即插即用,只需零级校正,实验操作更加方便;
Omni-λ200i系列
生产厂家
2024-05-20
3641

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